بررسي روش هاي پايشگري ضخامت لايه هاي نانومتري اپتيكي و بهينه سازي پايشگري در دستگاه لايه نشاني موجود

مقطع تحصيلي

كارشناسي ارشد

رشته تحصيلي

فيزيك گرايش اتمي- مولكولي

دانشكده

دانشكده علوم، گروه فيزيك

تاريخ دفاع

1388

صفحه شمار

105ص

استاد راهنما

حميدرضا فلاح

استاد مشاور

مرتضي حاجي ، سيد مجتبي مستجاب الدعواني

كليدواژه فارسي

فيزيك ﴿اتمي- مولكولي﴾ , لايه نازك , اپتيك , نظريه همبستگي , اندازه گيري ضخامت , لايه نشاني

تاريخ نمايه سازي

21/10/88

نام نمايه ساز

خراساني

كليدواژه لاتين

Physics (atomic- molecular) , Thin film , Optics , Correlation theory , Thickness measurement , Address layer

عنوان لاتين

Thickness monitoring methods for nanoseale optical thin films and its optimization in our coating equipment

نويسنده

خسروي، زهره

لينک به اين مدرک